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  • YAP(Ce)闪烁晶体
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YAP(Ce)闪烁晶体

  • 衰减时间短,仅为 40ns
  • 高光输出
  • 最大尺寸:φ 50mm × 160mm
  • 应用:扫描电子显微镜 (SEM)、超薄成像屏幕、电子成像、γ 和 X 辐射计数器、X 辐射成像
  • YAP(Ce) 块体晶体和 YAP(Ce) 薄屏幕均可提供
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基本属性:

密度 (g/cm3) 5.4 熔点 (°C) 1875
峰值发射时的折射率 1.95 发射峰值 (nm) 370
发射光谱范围 (nm) 325-425 衰减时间 (ns) 40
光输出 (光子/KeV) 18 辐射长度 (cm) 2.7
吸湿性 解理面

 

规格:

生长方法 切克劳斯克法 分子式 YAlO3(铈含量:0.2~1.2 at%)
最大尺寸 ∅ 50 mm x 160 mm 可选材料 单晶
金属涂层 Al、Au、Ag 等 保护涂层 SiO2

掺铈钇铝(或 Ce: YAP)晶体是一种快速闪烁材料,衰减时间为 40ns。YAP(Ce) 晶体机械强度高,化学惰性强,适用于精密机械制造。为了避免光敏性,可以在入射面沉积一层易碎的铝膜。YAP(Ce) 晶体具有超低能量的二次 X 射线发射,非常适合成像应用。Ce: YAP 探测器广泛应用于伽马射线和 X 射线计数、电子显微镜、电子和 X 射线成像屏幕以及计算机断层扫描 (CT) 系统。

杭州煦和光电可根据客户要求提供 YAP(Ce) 单晶;最大尺寸为 ∅ 50 mm x 160 mm,采用提拉法生长,铈浓度为 0.2~1.2at%。除了一般的圆柱形或矩形 YAP(Ce) 晶体外,Shalom EO 还提供用于软 X 射线高分辨率成像应用的 YAP(Ce) 薄屏幕。


应用说明:

  • 扫描电子显微镜 (SEM)
  • 超薄成像屏幕
  • 电子成像
  • γ、X 射线计数器
  • X 射线成像
定制闪烁屏

定制闪烁屏

  • 适用于高空间分辨率应用
  • 独立屏幕最小 0.05 毫米
  • 熔融石英 (FS) 基底屏幕最小 0.01 毫米
  • 可提供铝涂层
  • 闪烁材料包括 YAG(Ce)、GAGG(Ce)、LuAG(Ce)、LYSO(Ce)、YAP(Ce) 和 CsI(Tl)
  • 应用:检测质子束、电子束、软 X 射线、紫外光、真空紫外光和极紫外光辐射
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